АНАЛИЗ МОДЕЛИ НЕИСПРАВНОСТИ И ДИАГНОСТИКИ МНОГОВЫХОДНЫХ МИКРОПРОЦЕССОРНЫХ УСТРОЙСТВ МНОГОКАНАЛЬНЫМ СИГНАТУРНЫМ АНАЛИЗАТОРОМ

Failure models and multichannel signature analysis use approaches for multi output digital devices diagnostics are considered in this article. Principles of digital devices, technical data analyses and diagnostics methodology necessary for search failure localization are given. It has been shown that the authenticity of digital devices operation is defined by the diagnostics methods which are used for equipment availability and failure identification.

В статье рассматриваются модели неисправности и подходы к использованию многоканального сигнатурного анализа для диагностики многовыходных микропроцессорных устройств. Приведены принципы анализа технических данных микропроцессорных устройств и методика диагностики необходимая для поиска и локализации неисправности. Показано, что достоверность работы микропроцессорных устройств, определяется, методами диагностики, которые используются для проверки работоспособности аппаратуры и нахождения неисправностей.